一种进行测试性能的量子芯片线路连接装置
公开
摘要
本发明涉及一种线路连接装置，具体地说，涉及一种进行测试性能的量子芯片线路连接装置。其包括电路板和对电路板进行测试的线路连接机构，所述电路板上安装有量子芯片，所述线路连接机构设置在电路板外，所述线路连接机构具体包括外框、限位组件和连接组件。本发明中通过两侧电性连接块的改变使电路板线路连接的接线端口发生改变，以实现对电路板上安装的量子芯片的测试，而且测试过程中无需将每个接线端口均连上线路，解决了测试时线路繁多难以控制的问题，以及一旦某个线路出现故障又很难寻找的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种进行测试性能的量子芯片线路连接装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114567990A
申请号 ：
CN202210251236.7
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-03-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王怡
申请人 ：
王怡
申请人地址 ：
江苏省徐州市泉山区解放南路中国矿业大学国家大学科技园科技大厦412室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210251236.7
主分类号 ：
H05K7/14
IPC分类号 ：
H05K7/14 H05K5/02 H05K1/18
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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