本申请公开了一种量子芯片检测系统及检测方法，所述量子芯片上形成有量子电路，所述检测系统包括第一探测组件，在检测过程中，与量子电路的输入端口形成电学连接；第二探测组件，在检测过程中，与量子电路的输出端口形成电学连接；第一观察组件，用于观察第一探测组件与所述输入端口是否接触以形成电学连接；第二观察组件，用于观察第二探测组件与所述输出端口是否接触以形成电学连接；分别与所述第一探测组件和所述第二探测组件电连接的检测元件，通过设置第一观察组件和第二观察组件，可以独立地对第一探测组件、第二探测组件进行观察，从而能够同时清晰地观察到第一探测组件、第二探测组件与量子电路的输入端口、输出端口的接触情况。