渐变中性密度片针孔测试系统
实质审查的生效
摘要
本发明属光学元件表面质量的检测领域，尤其涉及渐变中性密度片针孔测试系统，包括整体外框架（1）、激光光源（2）、上光学调整架（301）、下光学调整架（302）、承载平台（4）、运动机构（5）、承载夹具（6）、光功率计（8）及计算机（9）；运动机构（5）包括旋转电机（501）及X轴电动直线位移台（502）；旋转电机（501）固定设于X轴电动直线位移台（502）之上，其输出轴与承载夹具（6）垂直固定相接；X轴电动直线位移台（502）固定设于承载平台（4）之上，其推进端与Y轴电动直线位移台（503）固定相接。本发明检测一致性强，测试效率高，检测精度理想。
基本信息
专利标题 ：
渐变中性密度片针孔测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114324160A
申请号 ：
CN202111630222.8
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
金秀任少鹏张勇喜刘佩闻朱磊郭俊峰阎岩
申请人 ：
沈阳仪表科学研究院有限公司
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市大东区北海街242号
代理机构 ：
沈阳亚泰专利商标代理有限公司
代理人 ：
郭元艺
优先权 ：
CN202111630222.8
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/894
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/01
申请日 : 20211228
申请日 : 20211228
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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