分析金矿石品位的方法和系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开了分析金矿石品位的方法和系统。该方法包括:(1)利用中子对待测金矿石进行活化,以便将待测金矿石中的197Au活化为198Au;(2)198Au发生β‑衰变形成198Hg,测试198Au衰变发射的γ射线的强度,以便获得所述待测金矿石的金品位。该方法以缓发γ来作为197Au存在与否的标志物,能够根据实际需求在长的时间尺度(分,小时,天)下累积计数,获得更好的测量统计性,使得测量精度能够得到保证。由此,该方法不仅更为可靠,且测量精度高,还更易于实现工业化生产,能够有效解决传统的火试金法较慢的处理速度、XRF分析局限于矿石表面以及光子活化法受制于197Au的同质异能态较短的半衰期从而无法获得更高的分析精度的问题。
基本信息
专利标题 :
分析金矿石品位的方法和系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264681A
申请号 :
CN202111643048.0
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨祎罡张智崔桐源
申请人 :
清华大学
申请人地址 :
北京市海淀区清华园
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄德海
优先权 :
CN202111643048.0
主分类号 :
G01N23/22
IPC分类号 :
G01N23/22 G01N23/222 G21K1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/22
申请日 : 20211229
申请日 : 20211229
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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