本公开属于产品检测技术领域，涉及一种电子元件的检测方法及装置、存储介质、电子设备。该方法包括：获取电子元件的待检测图像，并对待检测图像进行目标检测处理得到电子元件的引脚图像；对引脚图像进行实例分割处理确定引脚图像中的目标区域，并根据目标区域对引脚图像进行图像修复处理得到修复图像；基于目标区域，对修复图像进行质量检测处理得到电子元件的检测结果。本公开为量化检测引脚区域中的目标区域的质量提供了数据基础，对低分辨率的引脚图像进行优化和修复，显著提高了检测方法的应用场景，根据目标区域对修复图像进行质量检测处理，提供了一种自动化且智能化的检测方法，节省了人力成本和时间成本，提高了检测的效率和准确率。