用于对寄存器进行验证的方法及装置、电子设备、存储介质
公开
摘要
本申请涉及寄存器验证技术领域，公开一种用于对寄存器进行验证的方法，包括：获取寄存器对应的寄存器参数和访问权限；根据寄存器参数和访问权限生成验证激励；按照验证激励对寄存器进行验证，获得验证结果。这样，能够自动对寄存器进行验证，不需要人工对寄存器进行验证，提高了对寄存器进行验证的效率。本申请还公开一种用于对寄存器进行验证的装置、电子设备、存储介质。
基本信息
专利标题 ：
用于对寄存器进行验证的方法及装置、电子设备、存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114297965A
申请号 ：
CN202111654090.2
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张芬
申请人 ：
北京紫光芯能科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区王庄路1号院清华同方科技大厦D座15层1511-06号
代理机构 ：
北京康盛知识产权代理有限公司
代理人 ：
陶俊洁
优先权 ：
CN202111654090.2
主分类号 ：
G06F30/33
IPC分类号 ：
G06F30/33 G06F21/60
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/33
设计验证，例如功能仿真或模型检查
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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