本发明公开了一种带隙基准电压校准方法，基于带隙基准电路实现；校准方法包括：在第一测试阶段：获取在第一温度和第二温度下且修调码为第一修调码时所对应的温度系数误差；获得校准温度系数误差的第二修调码，同时获得对应的第一带隙基准电压。根据本发明实施方式的带隙基准电压校准方法，先在第一测试阶段的第一温度下进行“单点校准”，再在第二测试阶段的第二温度下进行“两点校准”，从而只需两个测试温度点，无需多次迭代，就能算出相当精准的修调码，显著提高了校准的精度，具有高精度、低成本的优势。对封装等应力影响的检测和调整，充分考虑到基准输出电压从第一测试阶段至第二测试阶段的变化从而加以校准，具有很强的工程实施性。