异构子孔径的条纹追踪方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种异构子孔径的条纹追踪方法,包括如下步骤:S1、口径不同的移动接收望远镜与固定接收望远镜接收的光束分别经微透镜阵列耦合入光纤阵列中;S2、两路光束经光纤阵列的空间滤波后通过色散元件分散为单色光,各路单色光通过会聚透镜入射至异构子孔径拼接干涉仪发生干涉形成干涉光谱;其中,两路光束分散而成的单色光之间发生干涉;S3、对干涉光谱进行频谱分析,获得两路光束的光程差;S4、基于光学延迟线或促动器对光程差进行实时跟踪补偿,以实现异构子孔径的条纹追踪。本发明本发明利用不同口径的望远镜甚至集成不同类型干涉装置的异构子孔径架构具有充分利用现有设备、可兼顾详查与普查的优点,实现更高效率的空间光学干涉成像。

基本信息
专利标题 :
异构子孔径的条纹追踪方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264371A
申请号 :
CN202111675021.X
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
安其昌刘欣悦张景旭李洪文
申请人 :
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 :
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 :
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
高一明
优先权 :
CN202111675021.X
主分类号 :
G01J3/45
IPC分类号 :
G01J3/45  G01J3/28  G01J3/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/45
干涉光谱法
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/45
申请日 : 20211231
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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