一种测量反光差异工件表面间隙、面差的方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种测量反光差异工件表面间隙、面差的方法，所述反光差异工件包括反光率不同的区域，将反光率高的表面记为亮面、反光率低的表面记为暗面；线激光器向特征位置处投射激光条，相机连续采集两幅激光条图像；在低亮度激光条图像中提取亮面上的激光条中心线，记为光条I；在高亮度激光条图像中提取暗面上的激光条中心线，记为光条II；利用所述光条I和光条II求取间隙值和/或面差值；本方法能够有效解决因被测工件表面反光差异导致光条采集质量差，无法准确获取间隙面差值的问题；具有普适性好、成本低、速度快、精度高的特点。
基本信息
专利标题 ：
一种测量反光差异工件表面间隙、面差的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114383522A
申请号 ：
CN202111681573.1
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-12-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郭寅郭磊尹仕斌冯伟昌李光辉
申请人 ：
易思维（杭州）科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区滨安路1197号3幢495室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202111681573.1
主分类号 ：
G01B11/14
IPC分类号 ：
G01B11/14 G01B11/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/14
用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙
法律状态
2022-05-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/14
申请日 : 20211229
申请日 : 20211229
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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