一种用于高反光表面工件的结构光三维扫描方法
授权
摘要
本发明涉及一种用于高反光表面工件的结构光三维扫描方法。本发明所提供的一种用于高反光表面工件的结构光三维扫描方法，根据被测对象表面反射率的分布，计算得出若干个最优的投射亮度；在扫描时系统采用预计算得出的若干个最优的亮度投射若干组条纹图案，相机拍摄后，再将此若干组不同亮度的条纹图像进行融合，最后对融合后的高动态条纹图像解相、求解三维坐标和表面重建，最终还原被测对象的三维形貌。该方法能够适用高反光表面工件甚至复杂的未知场景的三维扫描，无需依赖经验，减少人为干预，提高系统的智能性。
基本信息
专利标题 ：
一种用于高反光表面工件的结构光三维扫描方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113091647A
申请号 ：
CN202110372335.6
公开（公告）日 ：
2021-07-09
申请日 ：
2021-04-07
授权号 ：
CN113091647B
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
林辉韩竺秦龙迎春苏祖全刘颖慧
申请人 ：
韶关学院
申请人地址 ：
广东省韶关市浈江区大学路288号
代理机构 ：
广州骏思知识产权代理有限公司
代理人 ：
程毅
优先权 ：
CN202110372335.6
主分类号 ：
G01B11/25
IPC分类号 ：
G01B11/25 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
G01B11/25
通过在物体上投影一个图形，例如莫尔条纹
法律状态
2022-04-12 ：
授权
2021-07-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/25
申请日 : 20210407
申请日 : 20210407
2021-07-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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