基于二值正交光栅的深度信息检测系统及方法
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种基于二值正交光栅的深度信息检测系统、深度信息检测方法、深度信息检测装置及电子设备,涉及图像处理技术领域。系统包括:光源,二值正交光栅,投影透镜,柱状透镜,柱状透镜沿第一方向延伸,半反半透镜,采集相机;其中,投影透镜光轴与采集相机光轴利用半反半透镜实现共轴光路,二值正交光栅投影在物体表面并通过柱状透镜双焦点成像后形成的正交条纹图像包括前端面正交条纹图像和后端面正交条纹图像,前端面正交条纹图像中沿第一方向的条纹聚焦、沿第二方向的条纹离焦,后端正交条纹图像中沿第一方向的条纹离焦、沿第二方向的条纹聚焦。本申请可以基于二值正交光栅的深度信息检测系统实现对物体深度的测量,可以提高运算速度节省能耗。
基本信息
专利标题 :
基于二值正交光栅的深度信息检测系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485457A
申请号 :
CN202111682041.X
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
艾佳苏显渝
申请人 :
四川深瑞视科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市武侯区科华北路65号世外桃源广场B座19层20号
代理机构 :
深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
苗燕
优先权 :
CN202111682041.X
主分类号 :
G01B11/22
IPC分类号 :
G01B11/22 G01B11/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/22
用于计量深度
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/22
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载