冷冻芯片、样品台组件、冷冻系统及样品测试系统
授权
摘要
本公开实施例公开了一种冷冻芯片、样品台组件、冷冻系统及样品测试系统，所述冷冻芯片与低温冷源接触，用以冷冻样品，包括：依次设置的加热层和热导层；其中，所述加热层包括至少一个温控单元，设置在所述热导层上；所述温控单元产生的热量沿所述热导层的厚度方向传递至所述低温冷源。该技术能够在对样品进行原位观察与表征的过程中选择特定时间进行冷冻和解冻，通过界面热阻设计获得高于105℃/s的冷冻与加热速度，保证样品不受破坏。这对于生物样品冷冻、解冻与原位显微观察等相关操作是一项重大改进，具有重大意义和广泛应用前景。
基本信息
专利标题 ：
冷冻芯片、样品台组件、冷冻系统及样品测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202120987708.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-05-10
授权号 ：
CN216160284U
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
赵蒙
申请人 ：
生物岛实验室;珠海飒德科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市海珠区广州国际生物岛螺旋三路6号
代理机构 ：
北京智信四方知识产权代理有限公司
代理人 ：
葛啟宏
优先权 ：
CN202120987708.6
主分类号 ：
G01N1/42
IPC分类号 ：
G01N1/42 G01N1/44 G05D23/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
G01N1/42
低温样品处理，例如冰冻固定
法律状态
2022-04-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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