用于激光剥蚀系统的样品冷冻装置
授权
摘要
本实用新型公开了用于激光剥蚀系统的样品冷冻装置，包括样品冷冻槽，所述样品冷冻槽内设置有载物台、半导体制冷片和散热系统，所述半导体制冷片的冷端与所述载物台的底部连接，所述半导体制冷片的热端与所述散热系统连接。本实用新型结构简单，体积小，适用于实验室，制冷降温速度快，无需任何制冷剂，可连续工作，工作室无振动、无噪声，使用寿命长。
基本信息
专利标题 ：
用于激光剥蚀系统的样品冷冻装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921273099.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-07
授权号 ：
CN210375923U
授权日 ：
2020-04-21
发明人 ：
任德馨刘朋陈微言孔小乐沈晓峰胡勇刚
申请人 ：
上海凯来仪器有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区南汇新城镇环湖西二路888号C楼
代理机构 ：
深圳市创富知识产权代理有限公司
代理人 ：
曾敬
优先权 ：
CN201921273099.7
主分类号 ：
G01N1/42
IPC分类号 ：
G01N1/42 G05D23/20
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
G01N1/42
低温样品处理，例如冰冻固定
法律状态
2020-04-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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