双波长激光剥蚀离子化样品处理系统
授权
摘要

本实用新型公开的属于双波长激光剥蚀离子化样品处理技术领域,具体为双波长激光剥蚀离子化样品处理系统,包括底座、安装在底座顶端的支撑板、固定安装在底座顶端与支撑板底端之间的支撑杆,还包括安装在支撑板顶端的保存箱和与保存箱、底座、支撑板连接的处理装置,所述处理装置是由转动结构和保存结构组成,所述转动结构包括转动组件和从动组件,所述保存结构包括放置组件和恒温组件,所述转动组件安装在底座顶端,所述转动组件一侧啮合连接有从动组件,所述从动组件顶端穿过保存箱与放置组件底端固定连接,本实用新型通过在保存箱上开设多组放置槽方便对多组材料同时进行保存,提高效率节约成本。

基本信息
专利标题 :
双波长激光剥蚀离子化样品处理系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122744825.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-10
授权号 :
CN216349922U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
陈微言蒋建兵刘朋
申请人 :
上海凯来谱科技有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区海基六路218弄11号4、5层
代理机构 :
广州京诺知识产权代理有限公司
代理人 :
于睿虬
优先权 :
CN202122744825.2
主分类号 :
G01N1/44
IPC分类号 :
G01N1/44  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
G01N1/44
包括辐照的样品处理,例如,加热
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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