一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置
授权
摘要
本实用新型涉及检测设备技术领域，具体涉及一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置，包括激光头，所述激光头设置在被测透明物质的正上方，所述被测透明物质的下侧放置有漫反射板；还包括光学系统，所述光学系统上方设置有探测器。本实用新型具有的有益效果是：将激光传感器安装在被测透明物质的正上方，漫反射板置于透明物质的底部，激光传感器发射激光并垂直透射被测透明物质，透射光在漫反射板表面发射，其中一路发射光在透明物质上表面发生折射，折射光在探测器上形成光斑，折射光斑位置与透明物质厚度相关，激光传感器通过测量折射光斑位置间接测量被测透明物质厚度；该种方法为非接触式测量，精度可达微米级。
基本信息
专利标题 ：
一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121689362.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-07-23
授权号 ：
CN216283276U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
卢俊辉史丽娟郑茗侨余小飞
申请人 ：
江汉大学
申请人地址 ：
湖北省武汉市沌口经济技术开发区新江大路8号
代理机构 ：
北京众达德权知识产权代理有限公司
代理人 ：
张晓冬
优先权 ：
CN202121689362.8
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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