用于片状电阻探针卡的镭切治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于片状电阻探针卡的镭切治具，包括基座，所述基座上开设有长条形的开孔，所述基座上设有对称设置在所述开孔两侧的夹持座，一对所述夹持座上共同夹持有位于所述开孔上方的片状探针卡。所述基座上还设有对称设置在所述开孔另外两侧的吹气管，所述吹气管的吹气口均朝向所述片状探针卡待镭切区域。所述基座的一侧开设有用于连接外置气源的接气嘴，所述基座内设有用于连通所述接气嘴、吹气管的通气管路。本实用新型的镭切治具能有效减少探针卡镭切时的粉尘附着，提高探针卡的测试精度。
基本信息
专利标题 ：
用于片状电阻探针卡的镭切治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121944864.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-18
授权号 ：
CN216285433U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
尹斌
申请人 ：
苏州矽利康测试系统有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区东富路38号3幢三层
代理机构 ：
无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
顾品荧
优先权 ：
CN202121944864.0
主分类号 ：
G01R3/00
IPC分类号 ：
G01R3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R3/00
专门用于制造测量仪器的设备或方法
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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