一种新型片状探针测试装置
授权
摘要
本实用新型旨在提供一种结构简单，操作简便，使用寿命长，维护成本低，并且能够保证测试数据的稳定性的新型片状探针测试装置。本实用新型包括探针件、上针块、针块固定框、下针块、PCB转接板以及底板，所述PCB转接板设置在所述底板上，所述下针块设置在所述PCB转接板上，所述针块固定框设置在所述下针块上，所述探针件穿入所述下针块后设置在所述PCB转接板上，所述探针件与所述PCB转接板电性连接，所述上针块套设在所述下针块后所述探针件穿入所述上针块，所述上针块滑动配合在所述下针块和所述针块固定框之间，所述上针块与所述下针块之间设置有若干根弹簧。本实用新型应用于电子元器件的测试领域。
基本信息
专利标题 ：
一种新型片状探针测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020869128.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-22
授权号 ：
CN212301639U
授权日 ：
2021-01-05
发明人 ：
李诗平祝国昌张琛星徐志兵
申请人 ：
欧拓飞科技（珠海）有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市高新区金鼎科技八路9号（1号厂房）4楼
代理机构 ：
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 ：
王贤义
优先权 ：
CN202020869128.2
主分类号 ：
G01R1/067
IPC分类号 ：
G01R1/067 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2021-01-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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