基于能量法的材料辐射性能测量装置
授权
摘要
本实用新型提供一种基于能量法的材料辐射性能测量装置，包括真空罩和制冷机，真空罩内设有铜屏，铜屏内设有测量组件；制冷机，与真空罩相连接，且制冷机的制冷端与测量组件相连接；测量组件包括黑体、至少一个样品台、反射机构以及测量机构，反射机构适于转至黑体或者样品台，接收黑体或者样品台发射的辐射能量并传输至测量机构。通过上述方式，真空罩内设有测量组件，且测量组件包括至少一个样品台和黑体，反射机构可以转至黑体或者样品台对黑体和样品台发射的辐射能量向测量机构进行传输，以实现对黑体和样品台上放置的材料样品辐射能量的测量，进而对比黑体与样品台上放置样品的辐射能量，实现低温下样品表面辐射性能的测量。
基本信息
专利标题 ：
基于能量法的材料辐射性能测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122128812.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-03
授权号 ：
CN216350272U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
赵雨晨李来风张恒成沈福至黄荣进
申请人 ：
中国科学院理化技术研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村东路29号
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
谭云
优先权 ：
CN202122128812.2
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/552
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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