一种产生和调控自聚焦艾里光束捕获微粒的系统
授权
摘要

本实用新型实施例提供一种产生和调控自聚焦艾里光束捕获微粒的系统,固体激光器发射高斯光束经过半波片调整偏振方向和扩束系统的准直扩束处理;数值模拟平面波和频谱调制产生的自聚焦艾里光束的初始光场干涉获得相位全息图加载到反射式空间光调制器中;然后光束经过4f滤波系统,通过移动屋脊棱镜,可以在光束质量分析仪观察自聚焦艾里光束在自由空间不同传输距离的横截面光强,在微粒捕获系统观察光束聚焦平面对微粒的捕获情况;通过调整自聚焦艾里光束的衰减因子,任意横向尺度可以改变光束的聚焦强度,聚焦位置和焦深,提高微粒捕获的稳定性和微粒操纵的灵活性。

基本信息
专利标题 :
一种产生和调控自聚焦艾里光束捕获微粒的系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122152068.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-09-07
授权号 :
CN216160393U
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
许丹琳莫振武江骏杰杨浩彬黄海琪邓冬梅
申请人 :
华南师范大学
申请人地址 :
广东省广州市番禺区华南师范大学大学城校区信息光电子科技学院
代理机构 :
广州容大知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘新年
优先权 :
CN202122152068.X
主分类号 :
G01N15/00
IPC分类号 :
G01N15/00  G01N21/01  G02B27/09  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2022-04-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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