本实用新型涉及电子测试技术领域，且公开了一种高精密电子件加工用测试冶具，解决了高精密电子件在生产完成后采用抽检方式而造成电性能测试精准度低的问题，其包括操作台，所述操作台的底端对称设有支撑筒，操作台的一侧底端设有放置板，操作台的顶端一侧设有支撑架，支撑架上设有按压组，操作台的顶端中间位置设有检测台，检测台的顶端等距离开设有放置槽，放置槽的内底端均设有导电片，检测台的一侧设有灯板，灯板上等距离设有与导电片电连接的LED灯；本设计操作简单，便于对多个电子元件同步测试，可以避免采用抽检，实现对电子元件的全面测试，提高了电子元件的测试精准性，同时提高了测试效率。