基于红外热像仪与超表面的太赫兹焦平面成像系统
授权
摘要
本发明提供了一种基于红外热像仪与超表面的太赫兹焦平面成像系统，太赫兹波从太赫兹波源模块发出后，照射到超表面吸波模块上，超表面吸波模块吸收太赫兹波能量，并将太赫兹波的电磁能量转化为热能；超表面吸波模块使用红外热成像仪模块对超表面吸波模块的金背板一侧进行观测，得到温度分布信息，由温度分布图像得到被成像物体的形状信息，完成成像功能。本发明成像技术的工作频率具有设计灵活性，可应用在室温工作环境下，所设计的焦平面阵列，其阵列可达到较大规模，本成像系统的系统等效噪声功率(NEP)性能优异，本成像系统的响应时间为27mS，可满足实时成像要求，无需读出电路。
基本信息
专利标题 ：
基于红外热像仪与超表面的太赫兹焦平面成像系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122487736.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-15
授权号 ：
CN216207066U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
朱海亮王开邱昱玮刘甘雨周雨欣
申请人 ：
西北工业大学
申请人地址 ：
陕西省西安市友谊西路127号
代理机构 ：
西北工业大学专利中心
代理人 ：
金凤
优先权 ：
CN202122487736.4
主分类号 ：
G01J5/48
IPC分类号 ：
G01J5/48 G01J3/28 G01B11/00 G01B11/24 H04N5/33
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/48
完全用视觉的方法
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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