基于气体等离子体动态孔径的太赫兹成像方法及成像系统
公开
摘要
本发明公开了一种基于气体等离子体动态孔径的太赫兹成像方法及成像系统，将两个传播方向相互正交的飞秒激光聚焦，在焦点附近形成两个交叉的气体等离子体，组成十字灯丝，十字灯丝以掠入射的方式传播过样品；太赫兹光束垂直入射到样品表面，由于等离子体的屏蔽效应，太赫兹强度被十字灯丝调制，利用双调制技术，使得只有被十字灯丝中间部分调制的太赫兹信号才被测量到；本发明的方法在整个近场探测过程中，都不需要实际的太赫兹探测器或太赫兹源靠近样品，就可以实现亚波长分辨率的太赫兹成像，样品没有被直接照射，大大降低了气体等离子体对样品的损伤；本发明方法还可以同时支持透射与反射测量，很好地提高了对太赫兹近场信息的获取能力。
基本信息
专利标题 ：
基于气体等离子体动态孔径的太赫兹成像方法及成像系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624194A
申请号 ：
CN202210114748.9
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-01-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王新柯张岩
申请人 ：
首都师范大学
申请人地址 ：
北京市海淀区西三环北路105号
代理机构 ：
北京理工大学专利中心
代理人 ：
李微微
优先权 ：
CN202210114748.9
主分类号 ：
G01N21/17
IPC分类号 ：
G01N21/17
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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