一种连续太赫兹波合成孔径成像系统及方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种连续太赫兹波合成孔径成像系统及方法,是一项新型成像技术,在简化太赫兹离轴数字全息成像光路的基础上,能够以较快的重建速度获得高分辨率的太赫兹全场相衬成像结果。具体通过探测器记录一系列对应于不同照明角度下的低分辨强度图像,再利用KK关系求解出不同照明角度下图像的复振幅信息,并利用频谱合成孔径技术重建出物体的高分辨振幅和相位分布。本发明通过将KK关系引入太赫兹成像中,既简化了太赫兹相衬成像的光路,同时突破了系统数字孔径的限制,提高了成像分辨率。
基本信息
专利标题 :
一种连续太赫兹波合成孔径成像系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114280055A
申请号 :
CN202111545782.3
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王云新朱江磊赵洁王大勇戎路林述峰
申请人 :
北京工业大学
申请人地址 :
北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 :
北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人 :
张慧
优先权 :
CN202111545782.3
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/84
申请日 : 20211216
申请日 : 20211216
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载