一种太赫兹调频连续波无损检测成像系统及方法
授权
摘要
本公开实施例中提供了一种太赫兹调频连续波无损检测成像系统及方法，属于太赫兹成像技术领域，所述系统包括：发射链路及喇叭天线，用于辐射出太赫兹高斯波束；分束镜；第一抛物面反射镜，用于将透射通过所述分束镜的太赫兹高斯波束准直为平行光束；第二抛物面反射镜，用于将所述平行光束聚焦于样品；以及接收链路及喇叭天线，用于接收经所述第二抛物面反射镜准直、所述第一抛物面反射镜聚焦以及所述分束镜反射的反射光束。通过本公开的处理方案，提高了对被测样品内部的成像检测能力。
基本信息
专利标题 ：
一种太赫兹调频连续波无损检测成像系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114002160A
申请号 ：
CN202111649547.0
公开（公告）日 ：
2022-02-01
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
CN114002160B
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
胡伟东
申请人 ：
北京理工大学
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村南大街5号
代理机构 ：
北京太合九思知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘戈
优先权 ：
CN202111649547.0
主分类号 ：
G01N21/17
IPC分类号 ：
G01N21/17
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2022-05-06 ：
授权
2022-02-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/17
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-02-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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