一种高压直流偏置下的绝缘材料频域介电响应测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种高压直流偏置下的绝缘材料频域介电响应测试系统，属于绝缘材料在线检测技术领域，包括测试回路、加压回路和控制单元；所述测试回路包括变频高压交流电源单元、微电流检测单元、试样单元、第一保护单元和第一接地装置；所述加压回路包括高压直流电源单元、试样单元、第二保护单元和第二接地装置；所述第一接地装置与第二接地装置之间为隔离设置。可通过上位机进行绝缘材料的不同温度和不同直流偏置下的测试，有助于分析温度、直流偏置大小对测试结果造成影响和变化规律。为现场在线对绝缘设备进行频域介电响应分析，分析绝缘状态提供实验模型和理论支持。
基本信息
专利标题 ：
一种高压直流偏置下的绝缘材料频域介电响应测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122575573.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-26
授权号 ：
CN216434222U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
刘骥杨航雷胜杰张明泽
申请人 ：
哈尔滨理工大学
申请人地址 ：
黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号哈尔滨理工大学
代理机构 ：
长春市吉利专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘建伟
优先权 ：
CN202122575573.5
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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