一种用于电子器件老化的测试治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于电子器件老化的测试治具，包括：至少一个电路载板，所述电路载板设有电源接口、以及用于与电子器件匹配的匹配口；以及，容腔，具有第一侧壁，所述第一侧壁开设有容置所述电源接口的第一让位口、以及供所述电路载板滑入的滑槽；所述滑槽沿所述电路载板的滑入方向延伸设置。本实用新型通过第一侧壁设置容置电源接口的第一让位口，将安装电路载板的滑槽设置在电路载板的滑入方向。便于沿电路载板的滑入方向排布多个电路载板，一方面避免对沿电路载板滑入方向排布的其它电路载板安装时形成干涉；另一方面安装结构简单，有效的节省了空间，使得空间利用更加紧凑，便于在有限的空间内承载更多的电子器件进行测试。
基本信息
专利标题 ：
一种用于电子器件老化的测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122750014.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-10
授权号 ：
CN216209581U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
黄锦龙李鸽鸽高凤汤迪谢新明
申请人 ：
长芯盛（武汉）科技股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷三路196号长飞科技园(二期)201号综合厂房4层407房间(自贸区武汉片区)
代理机构 ：
深圳市六加知识产权代理有限公司
代理人 ：
向彬
优先权 ：
CN202122750014.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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