一种PCB飞针测试机上用探针结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种PCB飞针测试机上用探针结构，包括：测试芯片、探针座、安装座、固定探针和活动探针，所述测试芯片和安装座分别设置在探针座的两侧，所述固定探针与安装座固定连接，活动探针与安装座活动连接，固定探针厚度大于活动探针的厚度；活动探针活动设置在位于安装座内的槽内，且位于固定探针一侧，活动探针顶端连接有按压片，所述按压片位于安装座的上方，活动探针上设置有凸起部。本实用新型通过同时设置两组厚度不一的探针，通过按压方式快速改变测试探针，能够根据PCB板批次尺寸快速调节探针厚度，从而使其能更好的与引脚接触，提高飞针的准确性，且调节简单快捷。
基本信息
专利标题 ：
一种PCB飞针测试机上用探针结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122926966.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-25
授权号 ：
CN216449688U
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
钱江辉曾锋刘早兰
申请人 ：
博罗县鸿源华辉电子有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市博罗县杨村镇李村村连湖组杨平路左侧连湖（土名）
代理机构 ：
佛山市引峰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周引
优先权 ：
CN202122926966.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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