一种平面多点测量系统
授权
摘要
本实用新型提供一种平面多点测量系统，用于测量有多点位装配高度要求的待测结构，包括控制装置、测试台、第一限位板、第二限位板、第三连接板、基准支架和若干个测量单元，第一限位板、第二限位板和第三连接板连接于测试台的顶面，第一限位板和第三连接板分别连接于基准支架的左右两侧，第二限位板抵接于基准支架的后侧，第一限位板和第二限位板的顶端高于基准支架的顶面，基准支架的顶面设有若干个通孔；测量单元的一端贯穿于通孔、另一端连接于测试台的顶面，测量单元与控制装置电连接，测量单元用于承接待测结构并感应下压高度行程信号，控制装置用于接收下压高度行程信号并判断各个测量单元对应测量点的尺寸偏差是否合格，测量效率高。
基本信息
专利标题 ：
一种平面多点测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122999199.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-01
授权号 ：
CN216432921U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
吴兴绪杨应根
申请人 ：
东莞市中电爱华电子有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市虎门镇赤岗村中国电子产业园
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
卢泽明
优先权 ：
CN202122999199.1
主分类号 ：
G01B21/08
IPC分类号 ：
G01B21/08 G01B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/08
用于计量厚度
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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