一种测量治具
授权
摘要

本实用新型公开了一种测量治具,涉及测量治具技术领域,包括治具本体和基座,所述基座位于治具本体的底端,基座的上端连接有测量片,而测量片远离基座的一端连接有透镜片,通过基座边缘区域设计的缺口部,可以用于拆卸测量片以及透镜片,镂空部用于覆盖待检测产品,而采用叠层安装的测量片以及透镜片,可以用于不同产品尺寸的测量片安装以及不用倍数的透镜片安装,单颗产品测量区域限定产品贴装区域,当超出此区域时为坏品,透镜片选择用低倍放大镜片制成,透镜边放置于测量片上方,其到低倍放大镜功能,用于检测放大检测底部镂空部产品,可以省去普通检测中需要使用低倍放大镜检测产品缺陷.其检测手段更为方便。

基本信息
专利标题 :
一种测量治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123029601.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-03
授权号 :
CN216523513U
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
李利钟磊何正鸿
申请人 :
甬矽电子(宁波)股份有限公司
申请人地址 :
浙江省宁波市余姚市中意宁波生态园兴舜路22号
代理机构 :
浙江杭州金通专利事务所有限公司
代理人 :
邓世凤
优先权 :
CN202123029601.X
主分类号 :
G01B5/00
IPC分类号 :
G01B5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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