一种电子设备测试用的测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子设备测试用的测试装置，包括测试机座，测试机座上侧中部安装有测试台，测试台上侧中部开设有限位槽，限位槽上侧中部安装有压力传感器，测试台上端两侧安装有升降板，升降板上部安装有定位夹具，测试机座上端罩设有防护罩，防护罩内顶部安装有液压缸，液压缸下侧安装有测试压板，升降板下侧安装有升降机构，本实用新型通过设有的测试台、限位槽、压力传感器和定位夹具，便于对电子设备下部外侧进行夹持定位处理，然后通过设有的液压缸和测试压板，液压缸驱动测试压板下移压设在电子设备顶部，从而便于对电子设备进行抗压测试处理，测试效率较高，而且结构简单，操作方便。
基本信息
专利标题 ：
一种电子设备测试用的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123034048.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-06
授权号 ：
CN216434248U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
龚健
申请人 ：
上海北臻电子科技有限公司
申请人地址 ：
上海市金山区枫泾镇环东一路65弄2号3541室
代理机构 ：
上海海贝律师事务所
代理人 ：
王文锋
优先权 ：
CN202123034048.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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