MCU测试装置和电子设备
授权
摘要
本申请实施例公开一种MCU测试装置和电子设备，涉及测试领域。MCU测试装置包括：芯片接口电路、电源电路、复位电路、时钟电路、硬件模式选择电路、串口调试接口电路、在线调试接口电路、通用外设电路、IO接口电路、测试设备接口电路、通信接口电路和电阻矩阵电路。本申请实现对不同型号的MCU进行功能测试，可以缩短项目开发周期和节省项目开发成本。
基本信息
专利标题 ：
MCU测试装置和电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122583939.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-26
授权号 ：
CN216209684U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
余锦泽
申请人 ：
珠海泰芯半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市高新区唐家湾镇金唐路1号港湾1号科创园2栋3-4层
代理机构 ：
广东朗乾律师事务所
代理人 ：
杨焕军
优先权 ：
CN202122583939.3
主分类号 ：
G01R31/3181
IPC分类号 ：
G01R31/3181
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/3181
•••性能测试
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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