一种适用于X射线衍射仪的可控压力粉末试样压样机
授权
摘要

本实用新型属于压样机领域,尤其是一种适用于X射线衍射仪的可控压力粉末试样压样机,包括基座,所述基座的顶部安装有壳体,壳体的顶部安装有动力箱,动力箱内设有驱动机构,动力箱内滑动安装有滑动座,滑动座与驱动机构之间设有传动机构,滑动座的底部固定安装有两个推动座,两个推动座的底端固定安装有同一个加固板,两个推动座相互靠近的一侧安装有同一个稳定板,两个推动座之间滑动安装有调节板,调节板位于稳定板和加固板之间,稳定板上设有调节组件。本实用新型设计合理,便于对压样板在竖直方向上进行调节,能够对压样板施加的压力进行调节,通过压样板的上下往复移动,能够对试样进行挤压。

基本信息
专利标题 :
一种适用于X射线衍射仪的可控压力粉末试样压样机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123037022.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-06
授权号 :
CN216560352U
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
王憶军
申请人 :
沈阳品川冶金材料有限公司
申请人地址 :
辽宁省沈阳市于洪区老边乡三台
代理机构 :
辽宁铭合专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
荣文嘉
优先权 :
CN202123037022.X
主分类号 :
G01N23/2005
IPC分类号 :
G01N23/2005  G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/2005
粉末状样品制备
法律状态
2022-05-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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