一种可调节深度的X射线衍射仪试样架装置
授权
摘要
一种可调节深度的X射线衍射仪试样架装置。本实用新型为了在X射线衍射分析时快速安装调节试样在试样架上的深度。本实用新型包括插板、支撑筒、样品台、固定螺纹板、升降螺杆、试样、盖板等，升降螺杆与固定螺纹板之间实现螺纹连接运动,盖板通过固定胶胶粘在样品台上，试样通过双面胶胶粘在盖板上，样品台在支撑筒内部通过升降螺杆实现升降运动。本实用新型具有试样安装调节便捷的特点。
基本信息
专利标题 ：
一种可调节深度的X射线衍射仪试样架装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123237779.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-14
授权号 ：
CN216594874U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
许建平崔旭光杨闯王佳杰于久灏李青川陈晶
申请人 ：
黑龙江工程学院;黑龙江省海振科技有限公司
申请人地址 ：
黑龙江省哈尔滨市道外区红旗大街999号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202123237779.3
主分类号 ：
G01N23/20025
IPC分类号 ：
G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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