显微镜挑片台
授权
摘要
本实用新型提供一种显微镜挑片台，包括承载平台和滑动设置在所述承载平台上的平铺检测桌；所述承载平台的上表面设置有中间隔条和多条滑槽，所述滑槽分布在所述中间隔条的两侧，多条所述滑槽均与所述中间隔条平行设置；所述平铺检测桌的底部设置有与所述滑槽滑动配合的支腿。该显微镜挑片台能够将石英晶片更好的摊开在平铺检测桌上，并可以随着平铺检测桌的滑动将石英晶片依次显现在显微镜视野中，从而保证了每个石英晶片均能够得到检测，避免了漏检的缺陷。该装置检测速度快、检测精度高。
基本信息
专利标题 ：
显微镜挑片台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123115957.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-13
授权号 ：
CN216718238U
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
申红卫侯标姜翠平赵峰
申请人 ：
济源石晶光电频率技术有限公司
申请人地址 ：
河南省济源市科技工业区济源石晶光电频率技术有限公司
代理机构 ：
郑州德勤知识产权代理有限公司
代理人 ：
王莉
优先权 ：
CN202123115957.5
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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