一种光合光器的测试架构
授权
摘要
本实用新型公开了一种光合光器的测试架构，其特征在于：包括多波长光源、程控式光开关、专用测试治具、PD光探头、光探测器外延光功率计和测试电脑，专用测试治具包括产品固定座和PD固定座，产品固定座上设有N个用于测试产品插芯定位的定位孔，PD固定座上设有N个PD光探头，N个定位孔与N个PD光探头一一对应设置，程控式光开关通过光纤跳线与测试产品对接，光探测器外延光功率计与PD光探头电性连接。本实用新型采用程控式光开关，避免了不同波长的光源串扰，提高了测试良率和测试精度；采用专用测试治具，使产品可以通过PD光探头直接读取产品插损，实现高效率、高良率、高精度的测试，解决了现有技术采用外接光纤与产品对接造成产品损伤的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种光合光器的测试架构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123133980.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-14
授权号 ：
CN216559628U
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
邹支农朱松根宋小街
申请人 ：
高安天孚光电技术有限公司
申请人地址 ：
江西省宜春市高安市石脑镇
代理机构 ：
南昌市赣昌知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
徐彩练
优先权 ：
CN202123133980.7
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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