本发明涉及一种基于集成黑体法变飞行时间的材料发射率测量装置及测量方法，其包括：密封壳，位于所述密封壳中的直线电机、推杆、待测样品和耐高温腔壁，其特征在于：所述直线电机用于提供连续可调的弹射速度；所述推杆用于连接直线电机和待测样品；所述耐高温腔壁的第一端和第二端为开口，所述耐高温腔壁的第一端开口和所述待测样品形成集成黑体；耐高温均温加热器，用于加热所述集成黑体；控温辐射温度计，其用于测量所述集成黑体的实时温度；光电高温计，其对待测样品在耐高温腔壁第一端口和第二端口的光谱辐射亮度进行测量。本装置相比于已有的集成黑体法，可外推获得飞行时间为零的结果，有效解决了待测样品飞行过程中温降无法准确测量的难题。