本发明公开了一种间接法测量半透明材料发射率的测量装置，包括光源，光源右侧设有第一平面反射镜，第一平面反射镜下方设有第一分束立方体，第一分束立方体的左侧设有第一半抛物面镜，第一分束立方体的右侧设有第二平面反射镜；第一半抛物面镜的下方设有样品，样品的下方设有第二半抛物面镜，第二半抛物面镜的右侧设有第二分束立方体，第二分束立方体的右侧设有第三分束立方体，第三分束立方体的下方设有会聚透镜，会聚透镜的焦点上设有探测器。本发明采用间接法测量透明或者半透明材料的发射率，同时将光源一维移动和平面反射镜一维移动相结合，能够实现入射天顶角和方位角独立变化，从而实现透明或者半透明材料方向发射率的测量。