一种自反射式红外发射率及温度测量装置
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种自反射式红外发射率及温度测量装置，本实用新型包括第一红外探测器、半透半反镜、第二红外探测器、旋转遮板、入射光系统、放大器、A/D转换器、键盘、显示器、触控器和MCU处理器，本实用新型不需要人工设置物体的参考发射率，对部分物体其测量精度较高，键盘及显示设置在装置的侧面。由于此测温装置结构简单、轻巧，且不用手动设置参考发射率，因此，利于在实际工业生产物体的测量，尤其适于表面光滑的物体。
基本信息
专利标题 ：
一种自反射式红外发射率及温度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922057972.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-26
授权号 ：
CN210802694U
授权日 ：
2020-06-19
发明人 ：
潘亚文张荣辉李宏华吴春法
申请人 ：
闽南科技学院
申请人地址 ：
福建省泉州市南安市康美镇闽南科技学院
代理机构 ：
北京天盾知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵桂芳
优先权 ：
CN201922057972.5
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00 G01J5/52
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2021-11-09 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01J 5/00
申请日 : 20191126
授权公告日 : 20200619
终止日期 : 20201126
申请日 : 20191126
授权公告日 : 20200619
终止日期 : 20201126
2020-06-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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