一种表面发射率测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种表面发射率测量装置，所述测量装置包括真空室(1)、抽真空装置(2)、加热室(3)、红外相机(4)、蓝宝石观察窗(5)；所述抽真空装置(2)与真空室(1)连通，所述加热室(3)放置在真空室(1)内部，所述红外相机(4)放置在真空室(1)外部，所述蓝宝石观察窗(5)开设在真空室(1)的炉壳壳体上，所述红外相机(4)对准蓝宝石观察窗(5)观察加热室(3)内部。由于本实用新型采用辐射加热测试样件，加热区温度均匀，减少材料内部产生温度梯度，保证热电偶采集温度准确；加热室采用全封闭结构，只保留红外相机观察通道，红外相机测量面位于隔热罩内部并与加热室不可见，避免背景辐射对红外相机测温干扰。
基本信息
专利标题 ：
一种表面发射率测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921823028.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-28
授权号 ：
CN210719419U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
许铁军姚达毛韩乐田焜张斌
申请人 ：
中国科学院合肥物质科学研究院
申请人地址 ：
安徽省合肥市庐阳区蜀山湖路350号
代理机构 ：
北京科迪生专利代理有限责任公司
代理人 ：
杨学明
优先权 ：
CN201921823028.X
主分类号 ：
G01J5/10
IPC分类号 ：
G01J5/10 G01J5/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/10
用电辐射检测器
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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