降低周围环境干扰和被检测构件表面发射率影响的装置
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种降低周围环境干扰和被检测构件表面发射率影响的装置，所述装置包括遮罩系统、升降系统和支架系统，遮罩系统由内壁、外壳、底部密封圈、猫眼窥视窗和窥视窗保护盖构成；升降系统由齿轮、齿条、箱体、24V直流电机、开关按钮、主控板、驱动板和限位开关构成；支架系统由底座、底座圆形平台、圆形凹槽、定位卡槽、电源插孔、网线出线孔、网线出线孔保护盖、减震器、定位孔、PT100温度传感器、LED显示屏、蜂鸣器、AT89S51单片机和支撑主体构成。本实用新型很好地降低了红外热成像检测时周围环境干扰和被检测构件表面发射率对检测结果的影响，保证了红外热成像检测结果的可靠性。
基本信息
专利标题 ：
降低周围环境干扰和被检测构件表面发射率影响的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920446851.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-03
授权号 ：
CN209911270U
授权日 ：
2020-01-07
发明人 ：
刘元林杜永志张阳
申请人 ：
黑龙江科技大学
申请人地址 ：
黑龙江省哈尔滨市松北区浦源路2468号
代理机构 ：
哈尔滨龙科专利代理有限公司
代理人 ：
高媛
优先权 ：
CN201920446851.7
主分类号 ：
G01N25/72
IPC分类号 ：
G01N25/72
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/72
测试缺陷的存在
法律状态
2022-03-15 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 25/72
申请日 : 20190403
授权公告日 : 20200107
终止日期 : 20210403
申请日 : 20190403
授权公告日 : 20200107
终止日期 : 20210403
2020-01-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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