物体表面发射率测定方法和携带式测定仪
被视为撤回的申请
摘要
本发明用测定仪对同一物体表面采用换罩的方法进行两次测量，第一次测得信号值与第二次信号值之比即为被测热物体表面发射率。所使用的测定仪包括测量头和二次仪表两部分。测量头由主体筒、检测罩、热敏电阻和调试装置等组成。检测罩包括反射罩和吸收罩，二者均具有半圆球形内表面，外形尺寸完全相等。使用本发明可在工业现场直接测量各种热设备和热物体的表面发射率，对节约能源有重要意义。
基本信息
专利标题 ：
物体表面发射率测定方法和携带式测定仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85103721A
申请号 ：
CN85103721
公开（公告）日 ：
1986-11-12
申请日 ：
1985-05-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
肖庆光徐恕宏叶林樊瑞
申请人 ：
华中工学院
申请人地址 ：
湖北省武汉武昌喻家山
代理机构 ：
华中工学院专利事务所
代理人 ：
方放
优先权 ：
CN85103721
主分类号 ：
G01J5/58
IPC分类号 ：
G01J5/58
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/50
用下列各组指明的技术
G01J5/58
利用吸收；利用偏振；利用消光效应
法律状态
1988-07-06 ：
被视为撤回的申请
1987-05-13 ：
实质审查请求
1986-11-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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