一种提升时间测量模块测试精度的方法及应用
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种提升时间测量模块测试精度的方法及应用,采集被测信号,将被测信号转换为高电平信号和低电平信号,并将高电平信号、低电平信号线的高低变化类型及对应的时间戳进行记录,对所有事件按时间戳进行升序排列,对L线下降沿事件、L线上升沿事件中的一个,以及H线下降沿事件、H线上升沿事件中的一个进行判断,基于判断结果,滤除所述被测信号中的无效数据。通过本发明提供的方法,可准确的识别出有效样本,并还原出原始信号,提高测试结果的精度,本发明提供的方法具备广泛的适用空间,可应用于所有需要测试信号的时间测量模块。
基本信息
专利标题 :
一种提升时间测量模块测试精度的方法及应用
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114441938A
申请号 :
CN202210003597.X
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-01-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
凌云邬刚
申请人 :
杭州加速科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-1号5G创新园J1层-103M
代理机构 :
深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李兴生
优先权 :
CN202210003597.X
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220104
申请日 : 20220104
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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