标准曲线生成方法、装置、分析设备和可读存储介质
授权
摘要
本申请公开了一种标准曲线生成方法、装置、分析设备和可读存储介质，该方法包括：获取零点相关数据和靶值相关数据；基于所述零点相关数据和所述靶值相关数据利用第一插值方法确定基本曲线，并利用第二插值方法对所述基本曲线进行优化以获得所述标准曲线。本申请可以有效降低标准曲线误差，避免出现震荡现象，进而提高分析设备的测量精度。
基本信息
专利标题 ：
标准曲线生成方法、装置、分析设备和可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114019114A
申请号 ：
CN202210007715.4
公开（公告）日 ：
2022-02-08
申请日 ：
2022-01-06
授权号 ：
CN114019114B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
徐岩纪道锐伍方辉高仕勇刘先成
申请人 ：
深圳普门科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区观湖街道观城社区求知东路8号金地天悦湾(梅关高速与环观南路交汇处)1层
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
王新哲
优先权 ：
CN202210007715.4
主分类号 ：
G01N33/00
IPC分类号 ：
G01N33/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2022-02-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 33/00
申请日 : 20220106
申请日 : 20220106
2022-02-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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