一种基于大面积氧化铋或硫化铋纳米管阵列结构的光电探测器及...
实质审查的生效
摘要

一种基于大面积氧化铋或硫化铋纳米管阵列结构的光电探测器及其制备方法,属于光电探测器件及其制备领域。本发明所述的Bi2O3、Bi2S3是一种大面积生长在导电衬底表面的纳米管阵列,所述光电探测器是以所生长的大面积Bi2O3、Bi2S3纳米管阵列分别作为探测材料所制备。首先,利用水热法合成ZnO纳米棒;然后,通过磁控溅射结合溶液法制备了具有核壳结构的ZnO纳米棒/Bi2O3薄膜和ZnO纳米棒/Bi2S3薄膜;接下来去除ZnO纳米棒后获得大面积Bi2O3或Bi2S3纳米管阵列;最后将Bi2O3、Bi2S3纳米管阵列分别作为工作电极制备了光电探测器。本发明主要利用简便、易操作的室温溶液法结合磁控溅射的方式合成了大面积Bi2O3、Bi2S3纳米管阵列结构,进而构造了光电探测器。

基本信息
专利标题 :
一种基于大面积氧化铋或硫化铋纳米管阵列结构的光电探测器及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509163A
申请号 :
CN202210011149.4
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-01-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
高世勇任帅王金忠容萍张勇苑野
申请人 :
哈尔滨工业大学
申请人地址 :
黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
代理机构 :
哈尔滨龙科专利代理有限公司
代理人 :
王新雨
优先权 :
CN202210011149.4
主分类号 :
G01J1/42
IPC分类号 :
G01J1/42  B82Y30/00  B82Y40/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/42
申请日 : 20220106
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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