一种考虑测试不确定性的电路测点优选方法

实质审查的生效

摘要

本发明公开了一种考虑测试不确定性的电路测点优选方法，通过构建测试不确定性的多信号模型，并给出该模型下由隔离率、检测率、测试代价、虚警率以及漏检率的优化目标函数和约束条件，然后利用多目标粒子群算法以测试代价，虚警率，漏检率作为优化目标，检测率、隔离率作为约束条件进行多目标优化，最终得到多组优选后的测点选择方案。

基本信息

专利标题：

一种考虑测试不确定性的电路测点优选方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114429082A

申请号：

CN202210021680.X

公开（公告）日：

2022-05-03

申请日：

2022-01-10

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

刘震王俊海刘雪梅汪静元龙兵周秀云

申请人：

电子科技大学

申请人地址：

四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号

代理机构：

成都行之智信知识产权代理有限公司

代理人：

温利平

优先权：

CN202210021680.X

主分类号：

G06F30/27

IPC分类号：

G06F30/27 G01R31/28 G06N3/00 G06F111/04

IPC结构图谱

G部——物理

G06

计算；推算或计数

G06F

电数字数据处理

G06F30/27

使用机器学习，例如人工智能，神经网络，支持向量机或训练模型

法律状态

2022-05-20 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G06F 30/27
申请日 : 20220110

2022-05-03 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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