一种考虑测试不确定性的电路测点优选方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种考虑测试不确定性的电路测点优选方法,通过构建测试不确定性的多信号模型,并给出该模型下由隔离率、检测率、测试代价、虚警率以及漏检率的优化目标函数和约束条件,然后利用多目标粒子群算法以测试代价,虚警率,漏检率作为优化目标,检测率、隔离率作为约束条件进行多目标优化,最终得到多组优选后的测点选择方案。
基本信息
专利标题 :
一种考虑测试不确定性的电路测点优选方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114429082A
申请号 :
CN202210021680.X
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2022-01-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘震王俊海刘雪梅汪静元龙兵周秀云
申请人 :
电子科技大学
申请人地址 :
四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
代理机构 :
成都行之智信知识产权代理有限公司
代理人 :
温利平
优先权 :
CN202210021680.X
主分类号 :
G06F30/27
IPC分类号 :
G06F30/27 G01R31/28 G06N3/00 G06F111/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/27
使用机器学习,例如人工智能,神经网络,支持向量机或训练模型
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/27
申请日 : 20220110
申请日 : 20220110
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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