一种基于偏振编码超表面的纳米位移测量装置及方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于偏振编码超表面的纳米位移测量装置及测量方法,所述装置包括照明模块、偏振编码超表面、反射模块和探测模块;所述的偏振编码超表面作用是将线偏振光转换为局域偏振态为方向角在空间变化的线偏振的结构光;通过反射模块使得入射光两次经过偏振编码超表面调控,获得空间均匀的线偏振出射光,其偏振方向角与超表面相对于光轴的横向位移呈线性关系,进而由马吕斯定律测量光强得到位移量。该装置和方法利用超表面测量横向位移,结构简单、量程大、灵敏度高。

基本信息
专利标题 :
一种基于偏振编码超表面的纳米位移测量装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114383515A
申请号 :
CN202210022572.4
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2022-01-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
臧昊峰鲁拥华张植宇席铮王沛
申请人 :
中国科学技术大学
申请人地址 :
安徽省合肥市包河区金寨路96号
代理机构 :
北京科迪生专利代理有限责任公司
代理人 :
江亚平
优先权 :
CN202210022572.4
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/02
申请日 : 20220110
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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