深度学习单图像去反射方法、装置、电子设备和存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种深度学习单图像去反射方法、装置、电子设备和存储介质,该方法包括:构造训练集;利用网络中的编码器对训练集中带反射图像I进行特征提取,得到n个不同尺度的编码特征图;根据n个不同尺度的编码特征图,在网络的解码过程中,生成各尺度的解码特征图、传输层图像特征图和反射区域导向掩膜图,并得到最终预测的传输层图像;利用训练集中真实的传输层图像T对网络进行监督,指导网络预测的传输层图像更接近真实传输层图像,达到图像去反射的目的;同时对生成的掩膜图进行监督,限制掩膜图的取值范围,指导网络生成更精确掩膜图,引导网络准确预测传输层图像。本发明能够很好地对单张反射图像完成去反射任务。

基本信息
专利标题 :
深度学习单图像去反射方法、装置、电子设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114529461A
申请号 :
CN202210024843.X
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-01-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄艳卢新昌全宇晖许勇
申请人 :
华南理工大学
申请人地址 :
广东省广州市天河区五山路381号
代理机构 :
广州市华学知识产权代理有限公司
代理人 :
戴晓琴
优先权 :
CN202210024843.X
主分类号 :
G06T5/00
IPC分类号 :
G06T5/00  G06T9/00  G06V10/46  G06V10/82  G06N3/04  G06N3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 5/00
申请日 : 20220111
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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