一种双阵列超声成像检测方法及检测装置
实质审查的生效
摘要

本发明属于超声波无损检测和粗晶材料或焊缝的检测技术领域,具体地说,涉及一种双阵列超声成像检测方法及检测装置,该方法包括:将第一超声换能器阵列和第二超声换能器阵列选取特定的耦合方式进行耦合,并相对对称放置在待测工件的两侧,记录待测工件分别与上述两个换能器阵列的相对位置;针对第一超声换能器阵列和第二超声换能器阵列,采用不同的全矩阵发射接收模式,向待测工件发射超声波,获得不同的全矩阵数据体,再结合全聚焦成像方法,获得全聚焦成像幅值,并进行归一化处理,获得成像检测结果;根据成像检测结果,判定待测工件中是否有缺陷。

基本信息
专利标题 :
一种双阵列超声成像检测方法及检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114428118A
申请号 :
CN202210025094.2
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2022-01-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
庄泽宇马骥宋波桂生王建毛捷廉国选周昌智易一平
申请人 :
中国科学院声学研究所
申请人地址 :
北京市海淀区北四环西路21号
代理机构 :
北京方安思达知识产权代理有限公司
代理人 :
陈琳琳
优先权 :
CN202210025094.2
主分类号 :
G01N29/06
IPC分类号 :
G01N29/06  G01N29/24  G01N29/44  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料;靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
G01N29/06
内部的显像,例如,声显微技术
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 29/06
申请日 : 20220111
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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