一种直接探测光轨道角动量的光探测器及其探测方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种直接探测光轨道角动量的光探测器及其探测方法。本发明基于特殊的电极结构,进行光轨道角动量的直接探测;本发明采用钽铱碲纳米片作为光的探测材料,钽铱碲纳米片为零带隙材料,探测光谱范围广,尤其是在中红外波段具有拓扑增强效应,使得响应更加灵敏,并且不需要也不能外加偏压,在室温下具有灵敏的响应度,室温和低温均工作;同时能够用于光强度探测;本发明用于红外成像、军事侦察、夜视镜等领域,在军用设备方面有着广阔的应用前景;另外,本发明能够实现直接进行轨道角动量测量,并且这样的元器件能够拓展,跟CMOS兼容,未来能够制备集成化面阵以解决诸多问题,用于焦平面成像。
基本信息
专利标题 :
一种直接探测光轨道角动量的光探测器及其探测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114414214A
申请号 :
CN202210025160.6
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-01-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孙栋赖佳伟范子璞马骏超
申请人 :
北京大学
申请人地址 :
北京市海淀区颐和园路5号
代理机构 :
北京万象新悦知识产权代理有限公司
代理人 :
王岩
优先权 :
CN202210025160.6
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20220111
申请日 : 20220111
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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