一种组装间隙测量方法、存储介质、终端和系统
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种组装间隙测量方法、存储介质、终端和系统,属于电子产品高精装配控制领域,方法基于测量槽对中框与后盖组装间隙测量,方法包括在中框长边和短边的装配面上开设多对测量槽、建立中框XYZ量测基准、采用激光或光谱扫描测量槽的3D点云、通过3D点云拼接计算各测量槽3D坐标以获得不同目标参数的计算值,最后通过虚拟装配计算目标参数计算值与标准装配尺寸比较,计算中框与后盖装配间隙;本申请采用激光扫描的点云进行自动拼接和计算,较人工塞尺测量方式速度、效率和精度大大提高,方法适用于自动化检测设备,从而对中框与后盖的组装间隙制程起到良好的管控效果,可以很好的在3C产品的设计、加工和组装领域中推广应用。

基本信息
专利标题 :
一种组装间隙测量方法、存储介质、终端和系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114370816A
申请号 :
CN202210026327.0
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2022-01-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨杰李欢曹葵康周明
申请人 :
苏州天准科技股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区科技城浔阳江路70号
代理机构 :
北京千壹知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王玉玲
优先权 :
CN202210026327.0
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/14  G06T7/00  G06T17/00  G06T19/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20220111
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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